如何對基本電子元器件進(jìn)行二次篩選？可靠性篩選試驗方法

可靠性又分為固有可靠性和使用可靠性。電子元器件的固有可靠性是指元器件本身具有的可靠性，取決于產(chǎn)品的可靠性設(shè)計。由于工作條件、環(huán)境條件和人為因素等引發(fā)的可靠性問題，通過元器件二次篩選可以有效剔除缺陷元件，避免缺陷元件的使用，有效提高產(chǎn)品的使用可靠性。本文收集整理了一些資料，期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。

電子元器件的可靠性

元器件存在缺陷是難以避免的，應(yīng)通過一系列的對產(chǎn)品的非破壞性的篩選試驗，施加合理應(yīng)力，剔除具有潛在缺陷的早期失效產(chǎn)品，使其度過浴盆曲線的早期失效階段。因此必須在產(chǎn)品的整個壽命周期內(nèi)，采取積極主動的工藝手段，對產(chǎn)品施加適當(dāng)應(yīng)力，使其潛在的缺陷激發(fā)，隱患提前暴露，從而提高產(chǎn)品質(zhì)量?？煽啃院Y選不能提高產(chǎn)品的固有可靠性，但是有效的篩選通過發(fā)現(xiàn)設(shè)計和制造方面所引起的缺陷，反饋到設(shè)計、生產(chǎn)的質(zhì)量控制中去，以便采取糾正措施，真正提高產(chǎn)品的可靠性。

電子元器件的二次篩選

二次篩選的質(zhì)量直接影響著型號產(chǎn)品的質(zhì)量，現(xiàn)在因為同一種器件在不同型號的產(chǎn)品中有不同的篩選要求，而且送篩器件批次多、數(shù)量大，往往在時間進(jìn)度方面不能滿足產(chǎn)品要求，并且由于篩選技術(shù)的局限性，還不能達(dá)到將早期失效的元器件全部剔除掉的理想目標(biāo)，因此提高元器件篩選質(zhì)量和效率是元器件篩選工作上的主要目標(biāo)。

二次篩選就是針對不同的失效模式進(jìn)行一些試驗以剔除不合格的、或由于某種缺陷會引起早期失效的元器件。通過二次篩選是不能提高元器件個體的固有可靠性水平的，但可以通過剔除不合格品，從生產(chǎn)批次的角度上講，改善批次的固有可靠性水平。從環(huán)境類別角度上講，相同環(huán)境下同一類器件的環(huán)境系數(shù)相同，因此相同環(huán)境下的產(chǎn)品的元器件篩選要求可以統(tǒng)一。

例如半導(dǎo)體器件的二次篩選項目通常是外觀檢查、常溫初測、溫度循環(huán)、恒定加速度、顆粒碰撞噪聲檢測、常溫中測、高溫老煉、常溫終測、低溫測試、高溫測試、密封檢查等。而各項目的試驗方法和試驗條件等都是按相關(guān)國軍標(biāo)選取的，加載應(yīng)力是按標(biāo)準(zhǔn)或元器件規(guī)范選取的。因此相同器件在相同環(huán)境類別下可以制定相同的篩選要求，以提高元器件篩選質(zhì)量和效率。

電子元器件二次篩選的要求

二次篩選工作的各項試驗以及其應(yīng)力的選擇是針對產(chǎn)品的使用要求而制定的，其篩選要求不能過嚴(yán)也不能過松。過于嚴(yán)格的篩選要求，會將原本滿足產(chǎn)品使用要求的元器件淘汰掉，進(jìn)而增加了篩選的成本及元器件的使用成本，在某種情況下，可能對元器件造成損壞，反而造成了更多的質(zhì)量隱患；若過于寬松的篩選條件，則會造成本不滿足產(chǎn)品要求的元器件順利過關(guān)，對產(chǎn)品的可靠性有所影響。因此，必須制定出適合篩選應(yīng)力條件的要求，它將對產(chǎn)品質(zhì)量的可靠性有直接影響。

電子元器件二次篩選的作用

二次篩選的作用只能改善元器件的批質(zhì)量。因此，已經(jīng)確定滿足整機(jī)要求的元器件應(yīng)盡量不做電應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力和熱應(yīng)力的篩選項目，只做一些必要的檢查性和測試性的篩選項目。例如列入我國軍用電子元器件合格產(chǎn)品目錄和合格制造商目錄中的電子元器件，其篩選項目和應(yīng)力條件滿足產(chǎn)品的要求，可不作二次篩選；表貼元器件的封裝形式一般是盤封，主要用于表面貼裝生產(chǎn)線，篩選后將會影響焊接質(zhì)量與可靠性，故不宜進(jìn)行二次篩選。另一類是針對產(chǎn)品的用途進(jìn)行有選擇性的篩選。例如：抗幅照能力的考核就是一個特例。對宇航電子設(shè)備是必須考慮的，對地面電子設(shè)備則基本上可以不考慮。

電子元器件二次篩選注意事項

二次篩選的不當(dāng)操作和防護(hù)也能給電子元器件的運(yùn)用留下隱患或直接造成失效。所以，在二次篩選檢測試驗中，環(huán)境保護(hù)、操作、靜電防護(hù)等方面應(yīng)做好電子元器件的可靠性保障工作。二次篩選選取的應(yīng)力應(yīng)保證對正常器件不造成損壞、損傷及明顯縮短其使用壽命，二次篩選試驗的溫度不得超過被試元器件詳細(xì)規(guī)范中規(guī)定的極限溫度（含正極限溫度和負(fù)極限溫度），防止可能因元器件的封裝材料、結(jié)構(gòu)等原因，其極限溫度達(dá)不到試驗項目中規(guī)定的溫度要求而損傷元器件。過應(yīng)力條件篩選的元器件原則上不可裝機(jī)。

測試順序的安排是后面的參數(shù)能夠檢查元器件經(jīng)前面參數(shù)測試后可能產(chǎn)生的變化。對有耐電壓、絕緣電阻測試要求的元器件，耐壓在前、絕緣在后，功能參數(shù)最后測試；對有擊穿電壓和漏電流測試要求的元器件，擊穿電壓在前，漏電流在后，功能參數(shù)最后測試。具有遞減失效率函數(shù)的元器件一定是適合篩選的，但并非所有適合篩選的元器件都一定滿足此條件。隨著電子元器件小型化的發(fā)展，我們也應(yīng)該不斷擴(kuò)展和研究新的控制元器件的質(zhì)量的篩選方法，繼續(xù)為整機(jī)產(chǎn)品使用的電子元器件的使用可靠性提供可靠的保障。