可靠性驗(yàn)證
- 車載集成電路可靠性驗(yàn)證
- · 車電零部件可靠性驗(yàn)證(AEC) · 板階 (BLR) 車電可靠性驗(yàn)證 · 車用系統(tǒng)/PCB可靠度驗(yàn)證 · 可靠度板階恒加速試驗(yàn) · 間歇工作壽命試驗(yàn)(IOL) · 可靠度外形尺寸試驗(yàn) · 可靠度共面性試驗(yàn)
- 環(huán)境類試驗(yàn)
- · 高低溫 · 恒溫恒濕 · 冷熱沖擊 · HALT試驗(yàn) · HASS試驗(yàn) · 快速溫變 · 溫度循環(huán) · UV紫外老化 · 氙燈老化 · 水冷測(cè)試 · 高空低氣壓 · 交變濕熱
- 機(jī)械類試驗(yàn)
- · 拉力試驗(yàn) · 芯片強(qiáng)度試驗(yàn) · 高應(yīng)變率-振動(dòng)試驗(yàn) · 低應(yīng)變率-板彎/彎曲試驗(yàn) · 高應(yīng)變率-機(jī)械沖擊試驗(yàn) · 芯片封裝完整性-封裝打線強(qiáng)度試驗(yàn) · 芯片封裝完整性-封裝體完整性測(cè)試 · 三綜合(溫度、濕度、振動(dòng)) · 四綜合(溫度、濕度、振動(dòng)、高度) · 自由跌落 · 紙箱抗壓
- 腐蝕類試驗(yàn)
- · 氣體腐蝕 · 鹽霧 · 臭氧老化 · 耐試劑試驗(yàn)
- IP防水/防塵試驗(yàn)
- · IP防水等級(jí)(IP00~IP69K) · 冰水沖擊 · 浸水試驗(yàn) · JIS/TSC3000G/TSC0511G防水測(cè)試 · IP防塵等級(jí)(IP00~IP69)
高低溫測(cè)試(High and low temperature testing)
描述:
高低溫測(cè)試又叫做高低溫循環(huán)測(cè)試,是產(chǎn)品環(huán)境可靠性測(cè)試中的一項(xiàng)?;旧纤械漠a(chǎn)品都是在一定的溫度環(huán)境下存儲(chǔ),或者工作運(yùn)行。有些環(huán)境下的溫度會(huì)不斷變化,時(shí)高時(shí)低。比如在有些溫差大的地區(qū)白天和黑夜?;蛘弋a(chǎn)品在運(yùn)輸、存儲(chǔ)、運(yùn)行過程中反復(fù)進(jìn)出于高溫區(qū)、低溫區(qū)。這種高低溫環(huán)境高溫時(shí)可能會(huì)達(dá)到70°C度以上甚至更高,低溫時(shí)溫度可能會(huì)達(dá)到-20°C度以下甚至更低。這種不斷變化的溫度環(huán)境會(huì)造成產(chǎn)品的功能、性能、質(zhì)量及壽命等受到影響,會(huì)加速產(chǎn)品的老化,縮短產(chǎn)品的使用壽命。如果產(chǎn)品長(zhǎng)期處于這種大幅度交替變化的高溫、低溫環(huán)境下,則需要具備足夠的抗高低溫循環(huán)的能力。這樣我們就需要模擬一定的環(huán)境條件,對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高低溫測(cè)試,以了解產(chǎn)品在這方面的性能,如測(cè)試結(jié)果達(dá)不到我們?cè)O(shè)定的標(biāo)準(zhǔn),我們就要根據(jù)測(cè)試情況進(jìn)行產(chǎn)品改進(jìn),然后重新測(cè)試,直至合格。
本試驗(yàn)?zāi)康氖谴_定元件、設(shè)備或其他產(chǎn)品在高溫環(huán)境下使用、運(yùn)輸或貯存的能力,測(cè)定器件承受極端高溫和極端低溫的能力,以及極端高溫與極端低溫交替變化對(duì)器件的影響。
應(yīng)用范圍:
電子、元器件、電路板等電工電子產(chǎn)品。
高低溫測(cè)試設(shè)備圖片: