1

IC真?zhèn)螜z測(cè)

HCT測(cè)試（Heated Chemical Test）

 描述：HCT 是指將芯片放入化學(xué)試劑加熱到一定的溫度，通過(guò)化學(xué)試劑的腐蝕性剝離芯片表面的涂層，來(lái)驗(yàn)證芯片表面是否有磨痕，涂層，重新打字等問(wèn)題，測(cè)試棉簽變黑則為測(cè)試失敗。


應(yīng)用范圍：通常配合外觀檢測(cè)來(lái)驗(yàn)證排除翻新貨。


加熱化學(xué)測(cè)試圖片:

加熱化學(xué)測(cè)試圖片   加熱化學(xué)測(cè)試圖片   

測(cè)試通過(guò)                                                           測(cè)試失敗