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IC真?zhèn)螜z測(cè)
HCT測(cè)試(Heated Chemical Test)
描述:HCT 是指將芯片放入化學(xué)試劑加熱到一定的溫度,通過(guò)化學(xué)試劑的腐蝕性剝離芯片表面的涂層,來(lái)驗(yàn)證芯片表面是否有磨痕,涂層,重新打字等問(wèn)題,測(cè)試棉簽變黑則為測(cè)試失敗。
應(yīng)用范圍:通常配合外觀檢測(cè)來(lái)驗(yàn)證排除翻新貨。
加熱化學(xué)測(cè)試圖片:
測(cè)試通過(guò) 測(cè)試失敗