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IC真?zhèn)螜z測(cè)
功能檢測(cè)(Functional Testing)
描述:功能檢測(cè),是指在特定工作條件(即器件正常使用環(huán)境,通常為常溫),器件正常工作的狀態(tài)下,進(jìn)行各種必要的邏輯或信號(hào)狀態(tài)測(cè)試。此測(cè)試依據(jù)原廠規(guī)格書(shū)以及行業(yè)標(biāo)準(zhǔn)或規(guī)范,設(shè)計(jì)可行性測(cè)試向量或?qū)S脺y(cè)試電路,對(duì)檢測(cè)樣片施加相應(yīng)的信號(hào)源輸入,通過(guò)外圍電路的調(diào)節(jié)控制、信號(hào)放大或轉(zhuǎn)換匹配等特定條件,分析信號(hào)的邏輯關(guān)系及輸出波形的變化狀態(tài),檢測(cè)器件的功能特性。
我們的優(yōu)勢(shì):
創(chuàng)芯檢測(cè)擁有百多項(xiàng)專利及軟件著作權(quán),上千種測(cè)試開(kāi)發(fā)案,專業(yè)的開(kāi)發(fā)團(tuán)隊(duì),能根據(jù)客戶需要快速定制開(kāi)發(fā)方案。
功能檢測(cè)圖片:
功能檢測(cè)設(shè)備圖片: