高溫高濕測(cè)試給產(chǎn)品帶來(lái)哪些影響?標(biāo)準(zhǔn)是什么?

日期:2022-12-01 15:34:43 瀏覽量:1957 標(biāo)簽: 高溫高濕測(cè)試

高溫高濕測(cè)試即模擬產(chǎn)品存儲(chǔ)、工作的溫濕度環(huán)境,檢驗(yàn)產(chǎn)品在此環(huán)境下一段時(shí)間后所受到的影響是否在可接受的范圍內(nèi)。產(chǎn)品存儲(chǔ)、工作的環(huán)境都帶有一定的溫度、濕度,而且有些環(huán)境的溫度、濕度比較高。產(chǎn)品長(zhǎng)時(shí)間處于這種較高的溫濕度環(huán)境下,性能、壽命會(huì)受到一定的影響。所以需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行高溫高濕測(cè)試,以了解產(chǎn)品這方面的性能,如果達(dá)不到要求,就需要對(duì)產(chǎn)品進(jìn)行相應(yīng)的改進(jìn)。

高溫高濕測(cè)試是用帶加熱、制冷、加濕、除濕功能的設(shè)備溫濕度箱,測(cè)試前檢查產(chǎn)品的相關(guān)功能、性能等是否正常并拍照,然后將產(chǎn)品放置于溫濕度箱中,開機(jī)并設(shè)置溫濕度箱的溫度、濕度及測(cè)試時(shí)長(zhǎng)。比如70℃,95%濕度,測(cè)試168小時(shí)。設(shè)置好后讓溫濕度箱工作,測(cè)試開始。到達(dá)設(shè)置的結(jié)束時(shí)間后,將產(chǎn)品取出,再次檢查產(chǎn)品的相關(guān)功能、性能等跟測(cè)試前是否有什么變化,以此判斷產(chǎn)品是否滿足具測(cè)試要求。有時(shí)候測(cè)試過(guò)程中也需要將產(chǎn)品拿出檢查,以了解產(chǎn)品在不同測(cè)試時(shí)間下的狀態(tài)。如果還沒到預(yù)設(shè)的測(cè)試完成時(shí)間產(chǎn)品所受的影響已經(jīng)超出可接受的范圍,就可以提前終止測(cè)試,尋找方案解決問(wèn)題,待產(chǎn)品改進(jìn)后再重新測(cè)試。

高溫高濕測(cè)試給產(chǎn)品帶來(lái)哪些影響?標(biāo)準(zhǔn)是什么?

高溫高濕測(cè)試分高溫高濕存儲(chǔ)和高溫高濕運(yùn)行。高溫高濕存儲(chǔ)是在產(chǎn)品非工作狀態(tài)下進(jìn)行測(cè)試。高溫高濕運(yùn)行是針對(duì)電子產(chǎn)品在產(chǎn)品通電工作狀態(tài)下進(jìn)行的測(cè)試。

高溫對(duì)產(chǎn)品的影響

溫度升高, 材料分子運(yùn)動(dòng)速度加劇, 分子動(dòng)能的增加將導(dǎo)致物體的膨脹、相態(tài)轉(zhuǎn)換和物理化學(xué)特性的變化, 從而引發(fā):

a) 絕熱物質(zhì)失效 — 材料熱老化(導(dǎo)熱率增大);

b) 變形、卡死、爆裂 (結(jié)構(gòu)損壞) — 高溫下氣態(tài)、液態(tài)、固態(tài)物體的膨脹或尺寸的增加;

c) 電氣性能變化、電接觸不良、介質(zhì)擊穿 — 電阻率、電導(dǎo)率增大, 表面高溫氧化, 材料間相互擴(kuò)散加劇

d) 潤(rùn)滑性能下降(磨損)或喪失(結(jié)構(gòu)損壞) — 化學(xué)反應(yīng)引起潤(rùn)滑劑變質(zhì), 粘度隨溫度升高而降低;

e) 物質(zhì)相態(tài)變化 — 高溫下物質(zhì)軟化、熔化、蒸發(fā)、升化;

f) 更高的溫度, 如達(dá)到距離點(diǎn)固體會(huì)失去磁性, 物體在強(qiáng)電介質(zhì)中會(huì)失去極性, 達(dá)到超導(dǎo)電性臨界溫度時(shí), 物體出現(xiàn)超導(dǎo)電性能

g) 有機(jī)材料褪色、裂解或龜裂;

h) 密封殼體(炮彈、炸彈等)內(nèi)物質(zhì)因熱脹產(chǎn)生高壓;

I) 合成材料在高溫下放氣, 喪失真空度。

濕度對(duì)產(chǎn)品的影響

濕度會(huì)影響產(chǎn)品外在的物理特性和化學(xué)性能, 濕度和溫度總是同時(shí)存在的相互耦合的環(huán)境因素。濕熱的共同作用會(huì)引發(fā):

a)、加速金屬表面的氧化和電蝕作用;

b)、加速表面有機(jī)涂層電化學(xué)反應(yīng), 破壞表面涂層的保護(hù)作用;

c)、由于材料的吸附作用導(dǎo)致材料膨脹, 從而引發(fā)結(jié)構(gòu)的損傷;

d)、由于吸濕、吸附等物理現(xiàn)象的影響, 會(huì)引起電氣絕緣性能降)低;

e)、由于凝露和游離的水汽, 會(huì)導(dǎo)致電氣短路, 熱傳遞特性變差, 光學(xué)器件成像與傳輸質(zhì)量變壞。

常用標(biāo)準(zhǔn)

IEC 60068、GB/T 2423:應(yīng)用最廣泛的環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn),規(guī)定了設(shè)備主要參數(shù)、試驗(yàn)條件、嚴(yán)酷等級(jí)等。

ISO 16750-4 :歐系車常用的標(biāo)準(zhǔn),并且逐漸被各國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)和各企業(yè)標(biāo)準(zhǔn)所引用。

SAE J1211、SAE J1455 :美國(guó)汽車工程師協(xié)會(huì)制定的汽車電氣部件環(huán)境試驗(yàn)標(biāo)準(zhǔn)。

高溫試驗(yàn):IEC 60068-2-2 GB/T 2423.2

低溫試驗(yàn):IEC 60068-2-1 GB/T 2423.1

溫度循環(huán)試驗(yàn):IEC 60068-2-14 GB/T 2423.22

溫度沖擊試驗(yàn):IEC 60068-2-14 GB/T 2423.22 EIA-364 IPC-TM650

濕熱試驗(yàn):IEC 60068-2-30 GB/T 2423.3(恒定濕熱) GB/T 2423.4(交變濕熱)

與高溫高濕測(cè)試同類型環(huán)境可靠性測(cè)試項(xiàng)目還有:高溫測(cè)試、恒溫恒濕測(cè)試、低溫測(cè)試、高低溫循環(huán)測(cè)試、交變濕熱測(cè)試、高低溫沖擊測(cè)試等。

以上便是此次創(chuàng)芯檢測(cè)帶來(lái)的“高溫高濕測(cè)試”相關(guān)內(nèi)容,希望能對(duì)大家有所幫助,我們將于后期帶來(lái)更多精彩內(nèi)容。公司檢測(cè)服務(wù)范圍涵蓋:電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析,功能檢測(cè)、工廠來(lái)料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。歡迎致電創(chuàng)芯檢測(cè),我們將竭誠(chéng)為您服務(wù)。

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