檢測(cè)電子元器件的標(biāo)準(zhǔn)和項(xiàng)目有哪些？
日期：2023-07-12 15:15:02 瀏覽量：637 標(biāo)簽: 電子元器件
電子元器件是電子設(shè)備和儀器的組成部分，通常由多個(gè)零部件組成，可以在同類(lèi)產(chǎn)品中交換使用。它們通常是電器、無(wú)線電、儀表等工業(yè)中的一些零部件，如電容器、晶體管、電阻絲、發(fā)條等。其中，二極管是最常見(jiàn)的一種。
電子元器件包括：電阻、電容、電感、電位器、電子管、散熱器、機(jī)電元件、連接器、半導(dǎo)體分立器件、電聲器件、激光器件、電子顯示器件、光電器件、傳感器、電源、開(kāi)關(guān)、微特電機(jī)、電子變壓器、繼電器、印制電路板、集成電路、各類(lèi)電路、壓電、晶體、石英、陶瓷磁性材料、印刷電路用基材基板、電子功能工藝專(zhuān)用材料、電子膠（帶）制品、電子化學(xué)材料及部品等。今天為大家介紹一下檢測(cè)電子元器件的標(biāo)準(zhǔn)和項(xiàng)目。
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檢測(cè)項(xiàng)目：
1.常規(guī)測(cè)試
主要測(cè)試電子元器件的外觀、尺寸、電性能、安全性能等
根據(jù)元器件的規(guī)格書(shū)測(cè)試基本參數(shù)，如三極管，要測(cè)試外觀、尺寸、ICBO、VCEO、VCES、HFE、引腳拉力、引腳彎曲、可焊性、耐焊接熱等項(xiàng)目，部分出口產(chǎn)品還要測(cè)試RoHS。
2.可靠性測(cè)試
主要測(cè)試電子元器件的壽命和環(huán)境試驗(yàn)
根據(jù)使用方的要求和規(guī)格書(shū)的要求測(cè)試器件的壽命及各種環(huán)境試驗(yàn)，如三極管，要進(jìn)行高溫試驗(yàn)、低溫試驗(yàn)、潮態(tài)試驗(yàn)、振動(dòng)試驗(yàn)、最大負(fù)載試驗(yàn)、高溫耐久性試驗(yàn)等項(xiàng)目的試驗(yàn)；
3.DPA分析
主要針對(duì)器件的內(nèi)部結(jié)構(gòu)及工藝進(jìn)行把控
如三極管，主要手段有X光檢測(cè)內(nèi)部結(jié)構(gòu)、聲掃監(jiān)控內(nèi)部結(jié)構(gòu)及封裝工藝、開(kāi)封監(jiān)控內(nèi)部晶圓結(jié)構(gòu)及尺寸等。其中X-Ray實(shí)時(shí)成像技術(shù)應(yīng)用日漸廣泛，由于其具有無(wú)損、快速、易用、相對(duì)低成本的特點(diǎn)，得到越來(lái)越多的電子產(chǎn)品制造商的青睞。X-ray檢測(cè)可用來(lái)檢查元器件的內(nèi)部狀態(tài)，如芯片排布、引線的排布以及引線框架的設(shè)計(jì)、焊球（引線）等。對(duì)復(fù)雜結(jié)構(gòu)的元器件，可以調(diào)整X光管的角度、電壓、電流以及圖像的對(duì)比度和亮度，獲取有效的圖像信息。
檢測(cè)標(biāo)準(zhǔn)：
GB/T 18334—2001 有貫穿連接的撓性多層印制板規(guī)范
GB/T 18335—2001 有貫穿連接的剛撓多層印制板規(guī)范
GB/T 3615—2007 電解電容器用鋁箔
GB/T 4166—1984 電子設(shè)備用可變電容器的試驗(yàn)方法
GB/T 4874—1985 直流固定金屬化紙介電容器總規(guī)范
GB/T 5993—2003 電子設(shè)備用固定電容器第4部分：分規(guī)范 固體和非固體電解質(zhì)鋁電容器
GB/T 5994—2003 電子設(shè)備用固定電容器第4—1部分：空白詳細(xì)規(guī)范非固體電解質(zhì)鋁電容器評(píng)定水平E
GB/T 28858—2012 電子元器件用酚醛包封料
GB/T 28859—2012 電子元器件用環(huán)氧粉末包封料
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