CNAS-認(rèn)證機(jī)構(gòu)認(rèn)可規(guī)范文件清單
日期:2021-07-30 15:09:46 瀏覽量:5528 標(biāo)簽: CNAS認(rèn)證
「PDF資料下載」CNAS-認(rèn)證機(jī)構(gòu)認(rèn)可規(guī)范清單 : CNAS-認(rèn)證機(jī)構(gòu)認(rèn)可規(guī)范清單.pdf
CNAS-AI01:檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)認(rèn)可申請(qǐng)書(shū)
CNAS-AI01:2019年檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)認(rèn)可申請(qǐng)書(shū) 「申請(qǐng)資料免費(fèi)下載」
CNAS-AI01-12:附表7:管理體系核查表(CNAS-CI01-A005:2021)《檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)能力認(rèn)可準(zhǔn)則在建設(shè)工程檢驗(yàn)領(lǐng)域的應(yīng)用說(shuō)明》
CNAS:建設(shè)工程領(lǐng)域檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)認(rèn)可申請(qǐng)指南
CNAS:檢驗(yàn)機(jī)構(gòu)認(rèn)可領(lǐng)域分類(lèi)
CNAS: 合格評(píng)定機(jī)構(gòu)英文名稱(chēng)與地址的申報(bào)指南
「PDF資料下載」電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)A:低溫試驗(yàn)方法
「PDF資料下載」電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)B:高溫試驗(yàn)方法
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Ca:恒定濕熱試驗(yàn)方法
電工電子產(chǎn)品基本環(huán)境試驗(yàn)規(guī)程 試驗(yàn)Db:交變濕熱試驗(yàn)方法
- IC真?zhèn)螜z測(cè)
- DPA檢測(cè)
- 失效分析
- 開(kāi)發(fā)及功能驗(yàn)證
- 材料分析
- 可靠性驗(yàn)證
- 化學(xué)分析
- 外觀檢測(cè)
- X-Ray檢測(cè)
- 功能檢測(cè)
- SAT檢測(cè)
- 可焊性測(cè)試
- 開(kāi)蓋測(cè)試
- 丙酮測(cè)試
- 刮擦測(cè)試
- HCT測(cè)試
- 切片測(cè)試
- 電子顯微鏡分析
- 電特性測(cè)試
- FPGA開(kāi)發(fā)
- 單片機(jī)開(kāi)發(fā)
- 編程燒錄
- 掃描電鏡SEM
- 穿透電鏡TEM
- 高低溫試驗(yàn)
- 冷熱沖擊
- 快速溫變ESS
- 溫度循環(huán)
- ROHS檢測(cè)
- 無(wú)鉛測(cè)試