無鉛焊接互聯(lián)可靠性由這7個因素來決定

日期:2021-09-15 18:24:24 瀏覽量:1577 標(biāo)簽: 無鉛測試

在電子制造行業(yè)中,ROHS、無鉛這些字眼是見過最多的,很多芯片都采用了無鉛材料,比如引腳,錫球,慢慢從以前的有鉛轉(zhuǎn)無鉛,可靠性問題成為許多人關(guān)注的焦點問題。與其它無鉛相關(guān)問題(如合金選擇、工藝窗口等)不同,在可靠性方面,我們經(jīng)常會聽到分歧很大的觀點。剛開始的時候,聽到許多人講無鉛要比錫鉛更可靠,又有一部分人說錫鉛要比無鉛更可靠。這時我們又該如何判斷呢?其實,這要視具體情況來看待。

無鉛焊接互連可靠性是一個非常復(fù)雜的問題,它取決于許多因素,我們簡單列舉以下七個方面的因素:

1.取決于焊接合金

對于回流焊,“主流的”無鉛焊接合金是Sn-Ag-Cu(SAC),而波峰焊則可能是SAC或Sn-Cu。SAC合金和Sn-Cu合金擁有不同的可靠性性能。

2.取決于工藝條件

對于大型復(fù)雜電路板,焊接溫度通常為260(C,這可能會給PCB和元器件的可靠性帶來負面影響,但它對小型電路板的影響較小,因為最大回流焊溫度可能會比較低。

3.取決于PCB層壓材料

某些PCB (特別是大型復(fù)雜的厚電路板)根據(jù)層壓材料的屬性,可能會由于無鉛焊接溫度較高,而導(dǎo)致分層、層壓破裂、Cu裂縫、CAF (傳導(dǎo)陽極絲須)失效等故障率上升。它還取決于PCB表面涂層。例如,經(jīng)過觀察發(fā)現(xiàn),焊接與Ni層(從ENIG涂層)之間的接合要比焊接與Cu (如OSP和浸銀)之間的接合更易斷裂,特別是在機械撞擊下(如跌落測試中)。此外,在跌落測試中,無鉛焊接會發(fā)生更多的PCB破裂。

無鉛焊接互聯(lián)可靠性由這7個因素來決定

4.取決于元器件

某些元器件,如塑料封裝的元器件、電解電容器等,受到提高的焊接溫度的影響程度要超過其它因素。其次,錫絲是使用壽命長的高端產(chǎn)品中精細間距的元器件更加關(guān)注的另一個可靠性問題。此外,SAC合金的高模量也會給元器件帶來更大的壓力,給低k介電系數(shù)的元器件帶來問題,這些元器件通常會更加易失效。

5.取決于機械負荷條件

SAC合金的高應(yīng)力率靈敏度要求更加注意無鉛焊接界面在機械撞擊下的可靠性(如跌落、彎曲等),在高應(yīng)力速率下,應(yīng)力過大會導(dǎo)致焊接互連(和/或PCB)易斷裂。

6.取決于熱機械負荷條件

在熱循環(huán)條件下,蠕變/疲勞交互作用會通過損傷積聚效應(yīng)而導(dǎo)致焊點失效(即組織粗化/弱化,裂紋出現(xiàn)和擴大),蠕變應(yīng)力速率是一個重要因素。蠕變應(yīng)力速率隨著焊點上的熱機械載荷幅度變化,從而SAC焊點在“相對溫和”的條件下能夠比Sn-Pb焊點承受更多的熱循環(huán),但在“比較嚴重”的條件下比Sn-Pb焊點承受更少的熱循環(huán)。熱機械負荷取決于溫度范圍、元器件尺寸及元器件和基底之間的CTE不匹配程度。

例如,有報告顯示,在通過熱循環(huán)測試的同一塊電路板上,帶有Cu引線框的元器件在SAC焊點中經(jīng)受的熱循環(huán)數(shù)量要高于Sn-Pb焊點,而采用42合金引線框的元器件(其PCB的CTE不匹配程度更高)在SAC合金焊點中比Sn-Pb焊點將提前發(fā)生故障。也是在同一塊電路板上,0402陶瓷片狀器件的焊點在SAC中通過的熱循環(huán)數(shù)量要超過Sn-Pb,而2512元器件則相反。再舉一個例子,許多報告稱,在0℃和100℃之間熱循環(huán)時,F(xiàn)R4上1206陶瓷電阻器的焊點在無鉛焊接中發(fā)生故障的時間要晚于Sn-Pb,而在溫度極限是-40℃和150℃時,這一趨勢則恰好相反。

7.取決于“加速系數(shù)”

這也是一個有趣的、關(guān)系非常密切的因素,但這會使整個討論變得復(fù)雜得多,因為不同的合金(如SAC與Sn-Pb)有不同的加速系數(shù)。因此,無鉛焊接互連的可靠性取決于許多因素。這些因素錯綜復(fù)雜、相互影響,其詳細討論可以參見最新出版的圖書《無鉛焊接互連可靠性》。

關(guān)于無鉛器件可以執(zhí)行的質(zhì)量鑒定測試,由于無鉛加工需要更高的回流焊溫度,LSI 采用能夠經(jīng)受無鉛加工條件的優(yōu)質(zhì)材料以及低K及Pad on I/O工藝對無鉛解決方案進行質(zhì)量鑒定。質(zhì)量鑒定測試包括但不限于:抗?jié)穸葴y試(MRT)、溫度循環(huán)測試(TC)、溫濕度及偏壓測試(THB)以及高溫儲存測試(HTS)。除了組件級測試外,LSI還收集二級數(shù)據(jù),以確保組件貼裝至 PCB 上時質(zhì)量完好。錫須按照JEDEC JA210 標(biāo)準進行質(zhì)量鑒定,其中包括 -55oCto +85oC 范圍內(nèi)的溫度循環(huán)測試、室溫儲存測試以及 55-60o/85溫度范圍與90%相對濕度的存儲測試。

微信掃碼關(guān)注 CXOlab創(chuàng)芯在線檢測實驗室
相關(guān)閱讀
五月芯資訊回顧:原廠漲價函不斷,疫情影響供應(yīng)鏈

剛剛過去的五月,全球多地疫情反彈,大宗商品漲價延續(xù),IC產(chǎn)業(yè)鏈毫無意外,缺貨漲價仍是主旋律。下面就來梳理一下過去的一個月,業(yè)內(nèi)都有哪些值得關(guān)注的熱點。

2021-06-04 11:16:00
查看詳情
馬來西亞管控延長,被動元件又懸了?

自五月以來,馬來西亞疫情不斷升溫,每日新增確診高峰曾突破9000例。嚴峻形勢之下,馬來西亞政府于6月1日開始執(zhí)行為期半個月的全面行動管制。在這之后,每日新增病例呈現(xiàn)下降趨勢。

2021-06-18 15:41:07
查看詳情
內(nèi)存市場翻轉(zhuǎn),漲價來襲!

據(jù)媒體近日報道,內(nèi)存正在重回漲價模式,從去年12月到今年1月,漲幅最多的品種已達30%。據(jù)行情網(wǎng)站數(shù)據(jù),各類內(nèi)存條、內(nèi)存顆粒在12月上旬起開始漲價,至今仍沒有停止的意思。

2021-03-05 10:53:00
查看詳情
被動元件漲價啟動,MLCC和芯片打頭陣

據(jù)臺媒近日報道,MLCC兩大原廠三星電機和TDK近期對一線組裝廠客戶發(fā)出通知,強調(diào)高容MLCC供貨緊張,即將對其調(diào)漲報價。在芯片電阻市場,臺廠國巨正式宣布從三月起漲價15-25%。緊接著,華新科也對代理商發(fā)出漲價通知,新訂單將調(diào)漲10-15%。

2021-03-05 10:52:00
查看詳情
深圳福田海關(guān)查獲大批侵權(quán)電路板,共計超過39萬個

據(jù)海關(guān)總署微信平臺“海關(guān)發(fā)布”10日發(fā)布的消息,經(jīng)品牌權(quán)利人確認,深圳海關(guān)所屬福田海關(guān)此前在貨運出口渠道查獲的一批共計391500個印刷電路板,侵犯了UL公司的“RU”商標(biāo)專用權(quán)。

2021-03-05 11:12:00
查看詳情
可靠性測試:常規(guī)的可靠性項目及類型介紹

可靠性試驗是對產(chǎn)品進行可靠性調(diào)查、分析和評價的一種手段。試驗結(jié)果為故障分析、研究采取的糾正措施、判斷產(chǎn)品是否達到指標(biāo)要求提供依據(jù)。根據(jù)可靠性統(tǒng)計試驗所采用的方法和目的,可靠性統(tǒng)計試驗可以分為可靠性驗證試驗和可靠性測定試驗??煽啃詼y定試驗是為測定可靠性特性或其量值而做的試驗,通常用來提供可靠性數(shù)據(jù)??煽啃则炞C試驗是用來驗證設(shè)備的可靠性特征值是否符合其規(guī)定的可靠性要求的試驗,一般將可靠性鑒定和驗收試驗統(tǒng)稱為可靠性驗證試驗。

2021-04-26 16:17:00
查看詳情
產(chǎn)品進行可靠性測試的重要性及目的

產(chǎn)品在一定時間或條件下無故障地執(zhí)行指定功能的能力或可能性??赏ㄟ^可靠度、失效率還有平均無故障間隔等來評價產(chǎn)品的可靠性。而且這是一項重要的質(zhì)量指標(biāo),只是定性描述就顯得不夠,必須使之?dāng)?shù)量化,這樣才能進行精確的描述和比較。

2021-04-26 16:19:00
查看詳情
匯總:半導(dǎo)體失效分析測試的詳細步驟

失效分析是芯片測試重要環(huán)節(jié),無論對于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因為失效分析設(shè)備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設(shè)備,因此借用外力,使用對外開放的資源,來完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測試時需要準備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下:

2021-04-26 16:29:00
查看詳情
芯片常用失效分析手段和流程

一般來說,集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計人員找到設(shè)計上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個流程,最重要的還是要借助于各種先進精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個方面闡述,希望對大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00
查看詳情
值得借鑒!PCB板可靠性測試方法分享

PCB電路板是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設(shè)計主要是版圖設(shè)計;采用電路板的主要優(yōu)點是大大減少布線和裝配的差錯,提高了自動化水平和生產(chǎn)勞動率。PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵,要檢查PCB的質(zhì)量,必須進行多項可靠性測試。這篇文章就是對測試的介紹,一起來看看吧。

2021-04-26 16:47:42
查看詳情