cpu開蓋什么意思?開蓋測試的常見問題匯總

日期:2021-11-08 18:25:01 瀏覽量:3804 標簽: 開蓋檢測 開蓋測試

CPU 是目前人類科技含量最高,工藝最復雜,結(jié)構(gòu)最精細的產(chǎn)物結(jié)晶,內(nèi)部主要是由一大堆的運算器、控制器、寄存器組成。CPU開蓋是什么意思?CPU開蓋無非就是將CPU的頂部金屬蓋通過CPU開蓋器進行打開,主要就是為了將晶圓上的硅脂替換為液金,進一步提升CPU的散熱性能。

芯片開蓋的必要性?

樣品開封的目的是暴露封裝內(nèi)部器件芯片,以便進一步進行芯片表面的電探測和形貌觀察。X 射線透視技術(shù)、掃描聲學顯微術(shù)等無損失效分析技術(shù)只能解決有限的失效分析問題(如內(nèi)引線斷裂、芯片黏結(jié)失效等。)由于單子元器件等封裝材料和多層布線結(jié)構(gòu)的不透明性,對于大部分失效問題,必須采用解剖制樣技術(shù),實現(xiàn)芯片表面和內(nèi)部的可視察性和可探測性。

芯片開封的種類及方法?

按封裝材料及形式來分,電子元器件的封裝種類包括玻璃封裝(二極管)、金屬殼封裝、陶瓷封裝、塑料瘋裝、倒裝芯片封裝、3D疊層封裝等,引線鍵合絲有鋁絲、金絲、銅絲。開封的方法有機械開封方法、化學腐蝕開封方法和激光開封法。

以失效分析為目的的樣品制備技術(shù)的主要步驟包括:打開封裝、去鈍化層。對于多層結(jié)構(gòu)芯片來說,是需要去層間介質(zhì)。但必須保留金屬化層及金屬化層正下方的介質(zhì),還需要保留硅材料。為觀察芯片內(nèi)部缺陷,經(jīng)常采用剖切面技術(shù)和染色技術(shù)。

什么是化學開封?

塑封器件的封裝材料主要是環(huán)氧模塑料。以環(huán)氧樹脂為基體樹脂,以酚醛樹脂為固化劑,再加上一些填料(如填充劑、阻燃劑、著色劑、偶聯(lián)劑等微量組分),在熱和固化劑的作用下環(huán)氧樹脂的環(huán)氧基開環(huán)與酚醛樹脂發(fā)生化學反應,產(chǎn)生交聯(lián)固化作用,使之成為熱固性塑料,這就是環(huán)氧模塑料。環(huán)氧樹脂的種類和其所占比例的不同,直接影響著環(huán)氧塑料的流動特性、熱性能和電特性。

塑料封裝器件需采用化學腐蝕法開封,又可分為化學干法腐蝕和化學濕法腐蝕兩種。

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什么是激光開封?

銅鍵合絲具有成本優(yōu)勢、高導電性與導熱性、較低的金屬間化合物產(chǎn)生速率、高溫下較佳的可靠度等優(yōu)點,逐漸成為金鋁鍵合絲的佳替代品,用于密集引線鍵合的封裝中。采用銅鍵合絲的一般為塑料封裝,采用化學開封法開封,由于酸與銅引線之間的化學作用,在去除塑封材料的同時,會把銅鍵合絲也腐蝕掉,失去了開封地意義。因此,針對銅引線鍵合的器件,可采用激光開封法進行開封。激光開封機通過激光將封裝機器上的模塑料去掉,避免化學腐蝕直接開封法會對銅引線造成的腐蝕損傷。

激光開封機由計算機來設(shè)置開封區(qū)域和大小,并且控制激光的能量和掃描次數(shù),完成對銅引線鍵合封裝器件的封。激光波長通常為1064nm,功率為4.5W,激光級別為Class-4。

激光開封的方法主要用于以下場合

(1)半導體器件的失效分析開封。塑封材料的高效和去除,取代傳統(tǒng)的低效率化學品開封,解決化學品開封對銅線及內(nèi)部器件的破壞。

(2)塑封工藝設(shè)計和工藝參數(shù)有效性的驗證。解決X射線透視無法檢測鋁線塑封后沖絲塌陷的問題,使完全開封后對銅線金線的打線點的仔細觀察成為可能。

(3)應用于模塊使用廠家,進料檢驗時完全打開器件以觀察內(nèi)部是否存在設(shè)計或生產(chǎn)缺陷。

cpu開蓋了還可以用嗎?

cpu開蓋了是否能用分為兩種情況:

1、一般CPU里面填充了導熱性能較低的硅脂,導致超頻困難,所以一些技術(shù)水平較高的人開蓋填充液態(tài)金屬改善散熱性能。cpu開蓋后,內(nèi)部損壞,則無法繼續(xù)使用。

2、cpu開蓋后,未損壞則可以使用。

如何辨別cpu是否開過蓋?

1、看CPU的兩個耳朵有沒有壓痕,只要是用過都會有的,是不可逆。

2、表蓋與底板的膠也是需要注意的地方,CPU這東西,有的壽命比人還長,3年質(zhì)保都是安慰而已,拿到第一天沒出問題,那基本用到換電腦都不會有CPU的問題。

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