焊點可靠性通常是電子系統(tǒng)設(shè)計中的一個痛點。各種各樣的因素都會影響焊點的可靠性,并且其中任何一個因素都會大大縮短焊點的使用壽命。隨著電路板中的焊點越來越小,而它們所承載的機械、電氣和熱力學(xué)負載越來越重,對穩(wěn)定性的要求也日益提高。然而,在實際加工過程中也會遇到PCBA焊點失效的問題。有必要分析并找出原因,以避免再次發(fā)生焊點故障。電路板常見的焊接缺陷有很多,下面就常見的焊接缺陷、外觀特點、危害,以及原因分析進行詳細說明。
1、虛焊
外觀特點:焊錫與元器件引線或與銅箔之間有明顯黑色界線,焊錫向界線凹陷。
危害:不能正常工作。
原因分析:
元器件引線未清潔好,未鍍好錫或被氧化;
印制板未清潔好,噴涂的助焊劑質(zhì)量不好。
2、焊料堆積
外觀特點:焊點結(jié)構(gòu)松散、白色、無光澤。
危害:機械強度不足,可能虛焊。
原因分析:
焊料質(zhì)量不好;
焊接溫度不夠;
焊錫未凝固時,元器件引線松動。
3、焊料過多
外觀特點:焊料面呈凸形。
危害:浪費焊料,且可能包藏缺陷。
原因分析:焊錫撤離過遲。
4、焊料過少
外觀特點:焊接面積小于焊盤的80%,焊料未形成平滑的過渡面。
危害:機械強度不足。
原因分析
焊錫流動性差或焊錫撤離過早;
助焊劑不足;
焊接時間太短。
5、松香焊
外觀特點:焊縫中夾有松香渣。
危害:強度不足,導(dǎo)通不良,有可能時通時斷。
原因分析:
焊機過多或已失效;
焊接時間不足,加熱不足;
表面氧化膜未去除。
6、過熱
外觀特點:焊點發(fā)白,無金屬光澤,表面較粗糙。
危害:焊盤容易剝落,強度降低。
原因分析:烙鐵功率過大,加熱時間過長。
7、冷焊
外觀特點:表面成豆腐渣狀顆粒,有時可能有裂紋。
危害:強度低,導(dǎo)電性能不好。
原因分析:焊料未凝固前有抖動。
8、浸潤不良
外觀特點:焊料與焊件交界面接觸過大,不平滑。
危害:強度低,不通或時通時斷。
原因分析
焊件清理不干凈;
助焊劑不足或質(zhì)量差;
焊件未充分加熱。
9、不對稱
外觀特點:焊錫未流滿焊盤。
危害:強度不足。
原因分析
焊料流動性不好;
助焊劑不足或質(zhì)量差;
加熱不足。
10、松動
外觀特點:導(dǎo)線或元器件引線可移動。
危害:導(dǎo)通不良或不導(dǎo)通。
原因分析:
焊錫未凝固前引線移動造成空隙;
引線未處理好(浸潤差或未浸潤)。
11、拉尖
外觀特點:出現(xiàn)尖端。
危害:外觀不佳,容易造成橋接現(xiàn)象。
原因分析:
助焊劑過少,而加熱時間過長;
烙鐵撤離角度不當。
12、橋接
外觀特點:相鄰導(dǎo)線連接。
危害:電氣短路。
原因分析:
焊錫過多;
烙鐵撤離角度不當。
13、針孔
外觀特點:目測或低倍放大器可見有孔。
危害:強度不足,焊點容易腐蝕。
原因分析:引線與焊盤孔的間隙過大。
14、氣泡
外觀特點:引線根部有噴火式焊料隆起,內(nèi)部藏有空洞。
危害:暫時導(dǎo)通,但長時間容易引起導(dǎo)通不良。
原因分析:
引線與焊盤孔間隙大;
引線浸潤不良;
雙面板堵通孔焊接時間長,孔內(nèi)空氣膨脹。
15、銅箔翹起
外觀特點:銅箔從印制板上剝離。
危害:印制板已損壞。
原因分析:焊接時間太長,溫度過高。
16、剝離
外觀特點:焊點從銅箔上剝落(不是銅箔與印制板剝離)。
危害:斷路。
原因分析:焊盤上金屬鍍層不良。
PCBA加工焊點失效的主要原因:
1、元器件引腳不良:鍍層、污染、氧化、共面。
2、PCB焊盤不良:鍍層、污染、氧化、翹曲。
3、焊料質(zhì)量缺陷:組成、雜質(zhì)不達標、氧化。
4、焊劑質(zhì)量缺陷:低助焊性、高腐蝕、低SIR。
5、工藝參數(shù)控制缺陷:設(shè)計、控制、設(shè)備。
6、其他輔助材料缺陷:膠粘劑、清洗劑。
PCBA焊點的穩(wěn)定性增加方法:
對于PCBA焊點的穩(wěn)定性實驗工作,包括穩(wěn)定性實驗及分析,其目的一方面是評價、鑒定PCBA集成電路器件的穩(wěn)定性水平,為整機穩(wěn)定性設(shè)計提供參數(shù)。另一方面,在PCBA加工過程中,有必要提高焊點的穩(wěn)定性。這就需要對失效產(chǎn)品進行分析,找出失效模式,分析失效原因。目的是修正和改進設(shè)計工藝、結(jié)構(gòu)參數(shù)、焊接工藝,提高PCBA加工成品率。PCBA焊點的失效模式是預(yù)測其循環(huán)壽命和建立其數(shù)學(xué)模型的基礎(chǔ)。
相信通過閱讀上面的內(nèi)容,大家對常見焊點缺陷及失效原因分析有了初步的了解,同時也希望大家在學(xué)習過程中,做好總結(jié),這樣才能不斷提升自己的專業(yè)水平。深圳創(chuàng)芯在線檢測技術(shù)有限公司是國內(nèi)知名的電子元器件專業(yè)檢測機構(gòu),建有標準化實驗室3個,實驗室面積1000平米以上。檢測服務(wù)范圍涵蓋:電子元器件測試驗證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計選料、失效分析,功能檢測、工廠來料檢驗、元器件X-Ray檢測以及編帶等多種測試項目。