晶振損壞后有哪些故障現(xiàn)象?失效原因有哪些?

晶振中有貼片晶振和插件晶振，有無源晶振也有帶電壓的有源晶振。晶振是非常容易損壞的。我們選購在選擇晶振時，不單單要考慮到性價比，同樣重要的還有晶振參數(shù)匹配性。晶振損壞后有哪些故障現(xiàn)象?失效原因有哪些?本文收集整理了一些資料，期望能對各位讀者有比較大的參閱價值。

晶振損壞后故障現(xiàn)象

1、12兆赫茲晶振，現(xiàn)在的部分主板上出現(xiàn)了12兆的晶振，這款晶振主要用于USB接口。若有損壞，則可能導致USB接口失靈等問題。

2、14.318兆赫茲時鐘晶振，用于時鐘芯片。14.318兆赫茲晶振不起振，會影響主板_上電后全板無復位。起振波形不正常，還有可能導致主機開機不穩(wěn)定的現(xiàn)象發(fā)生。

3、24.576兆赫茲音頻晶振，與聲卡芯片相連。晶振不起振可能會出現(xiàn)無音頻信號，抓不住聲卡等問題。

4、32.768千赫茲圓柱晶振，實時晶振，與南橋相連，32.768千赫茲晶振能直接會影響主板系統(tǒng)時鐘的準確性，若損壞，會出現(xiàn)時鐘走時不準確，這跟手表、手機時間不準是一個道理。不同的主板，晶振損壞導致的問題也不盡相同，若是Intel、AMD和ATI芯片的主板上的32.768千赫茲晶振不起振，會導致主板不上電或上電后全板無復位。NVIDIA芯片主板中的32.768千赫茲晶振不起振則會出現(xiàn)跑CF或45（對應的數(shù)碼卡），數(shù)碼卡跑FF的情況。

5、25兆赫茲晶振，與網(wǎng)卡芯片相連，晶振不起振會影響不上電，或上電后斷電或不開機現(xiàn)象，單邊起振也出現(xiàn)上電后斷電現(xiàn)象。而用于網(wǎng)卡芯片時，不起振則會抓不到網(wǎng)卡，頻率異常會出現(xiàn)不連網(wǎng)或網(wǎng)燈不亮等現(xiàn)象。

6、27兆赫茲晶振，為BGA內(nèi)部VGA部分提供相關(guān)工作時鐘，27兆晶振不起振則會影響VGA無顯示。

晶振不起振失效原因

物料選型時，參數(shù)不匹配

1、等效負載需要6PF而選擇了15PF。

解決辦法：更換符合要求的規(guī)格型號。必要時請與MCU原廠或者晶振廠商確認。

2、頻率誤差（ppm）太大，導致實際頻率偏移標稱頻率從而引起晶振不起振。

解決辦法：選擇合適的PPM值的產(chǎn)品。

3、負性阻抗過大太小都會導致晶振不起振。

解決辦法：調(diào)節(jié)晶振外接電容，如圖3中C1 C2，一般而言，負性阻抗值應滿足不少于晶振標稱最大阻抗3-5倍。負性阻抗過大，可以將晶振外接電容Cd和Cg的值調(diào)大來降低負性阻抗；

4、激勵電平過大或者過小導致晶振不起振。

解決辦法：通過調(diào)整電路中的Rd的大小來調(diào)節(jié)振蕩電路對晶振輸出的激勵電平。一般而言，激勵電平越小越好，處理功耗低之外，還跟振蕩電路的穩(wěn)定性和晶振的使用壽命有關(guān)。

焊接、存儲等使用不規(guī)范

1、 焊接時溫度過高或時間過長，導致晶振內(nèi)部電性能指標出現(xiàn)異常而引起晶振不起振。

解決辦法：解決辦法：焊接制程過程中一定要規(guī)范操作，對焊接時間和溫度的設(shè)定要符合晶振的要求。如有疑問可與我們聯(lián)系確認。

2、儲存環(huán)境不當導致晶振電性能惡化而引起不起振。

解決辦法：盡可能在常溫常濕的條件下使用、保存，避免晶振或者電路板受潮。

3、EMC問題導致晶振不起振

解決辦法：一般而言，金屬封裝的制品在抗電磁干擾上優(yōu)于陶瓷封裝制品，如果電路上EMC較大，則盡量選用金屬封裝制品。另外晶振下面不要走信號線，避免帶來干擾。

晶振制造、質(zhì)量問題

1、晶振生產(chǎn)或運輸中內(nèi)部水晶片破裂或損壞導致晶振不起振。

解決辦法：平時需要注意運輸過程中要用泡沫包厚一些，避免中途損壞；制程過程中避免跌落、重壓、撞擊等，一旦有以上情況發(fā)生禁止再使用，更換好的晶振。

2、晶振內(nèi)部水晶片上附有雜質(zhì)或者塵埃等導致晶振不起振。

解決辦法：更換新的晶振。在選擇晶振供應商的時候需要對廠商的設(shè)備、車間環(huán)境、工藝及制程能力予以考量，這關(guān)系到產(chǎn)品的品質(zhì)問題。

當使用時發(fā)現(xiàn)晶振不起振，一般從以上三大點找原因即可，若出現(xiàn)停振，則要看看是否發(fā)燙，從而可能是激勵電平過高的原因；或是晶振在工作逐漸出現(xiàn)停振現(xiàn)象，用手碰觸或者用電烙鐵加熱晶振引腳又開始工作，則一般原因為振蕩電路中的負性阻抗值太小，需要調(diào)整晶振外接電容Cd和Cg的值來達到滿足振蕩電路的回路增益。

以上是創(chuàng)芯檢測小編整理的晶振損壞失效現(xiàn)象及原因分析相關(guān)內(nèi)容，希望對您有所幫助。深圳創(chuàng)芯在線檢測技術(shù)有限公司是國內(nèi)知名的電子元器件專業(yè)檢測機構(gòu)，建有標準化實驗室3個，實驗室面積1000平米以上。檢測服務范圍涵蓋：電子元器件測試驗證、IC真假鑒別，產(chǎn)品設(shè)計選料、失效分析，功能檢測、工廠來料檢驗、元器件X-Ray檢測以及編帶等多種測試項目。