功能測(cè)試和編程測(cè)試的區(qū)別？

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  編程測(cè)試：擦除，編程，校驗(yàn)，擦除，查空，編程測(cè)試就是功能測(cè)試，編程測(cè)試主要是針對(duì)存儲(chǔ)器，單片機(jī)等芯片

  2024年04月29日 15:01