當(dāng)電子元器件儲(chǔ)存環(huán)境濕度過高時(shí),濕氣會(huì)透過封裝材料及元器件的接合面進(jìn)入到IC器件的內(nèi)部,造成內(nèi)部電路氧化腐蝕短路,以及組焊接過程中的高溫會(huì)使進(jìn)入IC內(nèi)部的潮濕氣體受熱膨脹產(chǎn)生壓力,使塑料從芯片或引腳框上的內(nèi)部分離(脫層)、線捆接損傷、芯片損傷、內(nèi)部裂紋和延伸到元件表面的裂紋,甚至發(fā)生元件鼓脹和爆裂,這將導(dǎo)致組裝件返修甚至報(bào)廢。更為重要的是那些看不見的、潛在的缺陷會(huì)溶入到產(chǎn)品中去,使產(chǎn)品的可靠性出現(xiàn)問題。其它IC類電子元件,大都也存在潮濕的危害問題。電子元件烘干除氧化就顯得非常重要了。本文收集整理了一些資料,期望能對(duì)各位讀者有比較大的參閱價(jià)值。
潮濕空氣對(duì)電子產(chǎn)品的危害:
1、液晶器件:液晶顯示屏障等液晶器件的玻璃基板和偏光片、濾鏡片在生產(chǎn)中雖然要進(jìn)行清洗烘干,但待其降溫后仍然會(huì)受潮氣的影響,降低產(chǎn)品的合格率。因此在烘干后應(yīng)存放于40%RH以下的干燥環(huán)境中。
2、其他電子器件:電容器、陶瓷器件、接擦件、開關(guān)件、焊錫、PCB、晶片、石英震蕩器、SMT膠、電極材料粘合劑、電子漿料、高度亮器件等,均會(huì)受到潮濕的危害。
3、成品電子整機(jī)在倉庫過程中亦會(huì)受到潮濕危害,如在高度環(huán)境下存儲(chǔ)時(shí)間過長,將導(dǎo)致故障發(fā)生,對(duì)于計(jì)算機(jī)IC、BGA、PCB等,等待錫爐焊接的器件,烘烤完畢回溫的器件,尚未包裝的產(chǎn)品等,均會(huì)受到潮濕的影響。
4. 集成電路:潮濕對(duì)半導(dǎo)體產(chǎn)業(yè)的危害主要表現(xiàn)在潮濕能透過IC塑料封裝和從引腳等縫隙侵入IC內(nèi)部,產(chǎn)生IC吸濕現(xiàn)象。 在SMT過程的加熱環(huán)節(jié)中形成水蒸氣,產(chǎn)生的壓力導(dǎo)致IC樹脂封裂開,并使IC器件 內(nèi)部金屬氧化,導(dǎo)致產(chǎn)品故障。此外,當(dāng)器件在PCB板的焊接過程中,因水蒸壓力 釋放,亦會(huì)導(dǎo)致虛焊。
電子元器件為何要烘烤除潮?電子元器件焊接裝配前必須烘烤除潮原因:
①電子元器件日?;虺诖鎯?chǔ)受潮后不經(jīng)烘干工藝處理,器件內(nèi)部金屬材料易因潮濕產(chǎn)生腐蝕現(xiàn)象(二年左右阻值、容值明顯出現(xiàn)變化,嚴(yán)重的產(chǎn)生斷路現(xiàn)象);對(duì)因設(shè)備機(jī)械貼片及焊接過程中溫沖產(chǎn)生的器件密封失效未及時(shí)采取密封防護(hù)工藝措施,空氣環(huán)境中水汽、硫等物質(zhì)經(jīng)密封裂紋(損傷) 進(jìn)入與器件內(nèi)部金屬進(jìn)而發(fā)生濕腐蝕與硫化銀腐蝕,該現(xiàn)象往往在兩年或四年后逐漸顯現(xiàn)出PCBA組件數(shù)據(jù)漂移或功能失效等故障,此種故障滯后現(xiàn)象對(duì)整機(jī)危害性巨大,損失往往是批次性的。
②隨著電子器件向高集成、小型化發(fā)展,線路日益密集,在電子行業(yè)制造過程中受潮器件在加溫焊接過程中焊料飛濺造成短路,要求器件焊接(手工、再留焊、波峰焊)前必須要進(jìn)行器件除濕烘干處理。尤其 BGA、QFP 等隱藏焊點(diǎn)或密間距器件,將因無法返修而報(bào)廢
③電子組件焊后清洗及三防涂敷前后均需要按標(biāo)準(zhǔn)、工藝要求進(jìn)行安全烘干處理。
以上便是此次創(chuàng)芯檢測(cè)帶來的“電子產(chǎn)元器件烘干除氧化”相關(guān)內(nèi)容,希望能對(duì)大家有所幫助,我們將于后期帶來更多精彩內(nèi)容。公司檢測(cè)服務(wù)范圍涵蓋:電子元器件測(cè)試驗(yàn)證、IC真假鑒別,產(chǎn)品設(shè)計(jì)選料、失效分析,功能檢測(cè)、工廠來料檢驗(yàn)以及編帶等多種測(cè)試項(xiàng)目。歡迎致電創(chuàng)芯檢測(cè),我們將竭誠為您服務(wù)。