光電子元器件的可靠性測試怎么做？
日期：2022-11-29 16:08:56 瀏覽量：1058 標簽: 可靠性測試
光電子器件是利用光電轉(zhuǎn)換效應(yīng)制成的各種功能器件，能夠?qū)崿F(xiàn)光信號的產(chǎn)生、信號調(diào)制、探測、連接、能量分合、能量增減、信號放大、光電轉(zhuǎn)換、電光轉(zhuǎn)換等功能。光電子器件是光電子技術(shù)的關(guān)鍵和核心部件，各行業(yè)對光電子元器件的檢測是一項必不可少的基礎(chǔ)工作。而需要做可靠性檢測的產(chǎn)品種類很多，每個行業(yè)的檢測需求也不同，必須根據(jù)不同的元器件采用不同的方法，從而判斷元器件的正常與否。那么光電子元器件的可靠性測試怎么做？接下來一起來看看吧。
一、光電子元器件物理特性測試項目
密封性：確定具有內(nèi)空腔的光電子器件封裝的氣密性。
可燃性：確定光電子器件所使用材料的可燃性。
可焊性：確定需要焊接的光電子器件引線之可焊性。
引線鍵合強度：確定光電子器件采用低溫焊、熱壓焊、超聲焊等技術(shù)的引線鍵合強度。
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二、光電子元器件機械完整性試驗項目
產(chǎn)品運輸、使用中難免磕碰，即使被安裝在設(shè)備上了，也極可能遇到風(fēng)扇引起的振動。機械沖擊和振動就是針對產(chǎn)品可能碰到的各種不佳情況，提前做好預(yù)防與篩選工作。
1、機械沖擊：確定光電子器件能否適用在需經(jīng)受中等嚴酷程度沖擊的電子設(shè)備中。沖擊可能是裝卸、運輸或現(xiàn)場使用過程中突然受力或劇烈振動所產(chǎn)生的。
2、變頻振動：確定在規(guī)范頻率范圍內(nèi)，振動對光電子器件各部件的影響。
3、熱沖擊：確定光電子器件，在遭受到溫度劇變時的抵抗能力和產(chǎn)生的作用。
4、插拔耐久性：確定光電子器件光纖連接器的插入和拔出，光功率、損耗和反射等參數(shù)是否滿足重復(fù)性要求。
5、存儲試驗：確定光電子器件能否經(jīng)受高溫和低溫下運輸和儲存。
6、溫度循環(huán)：確定光電子器件承受極高溫度和極低溫度的能力，以及極高溫度和極低溫度交替變化對光電子器件的影響。
7、恒定濕熱：確定密封和非密封光電子器件能否同時承受規(guī)定的溫度和濕度。
8、高溫壽命：確定光電子器件高溫加速老化失效機理和工作壽命。
三、光電子元器件加速老化試驗
在光電子器件上施加高溫、高濕和一定的驅(qū)動電流進行加速老化。依據(jù)試驗的結(jié)果來判定光電子器件具備功能和喪失功能，及接收和拒收，并可對光電子器件工作條件進行調(diào)整和對可靠性進行計算。
1、高溫加速老化：加速老化過程中的最基本環(huán)境應(yīng)力是高溫。在實驗過程中，應(yīng)定期監(jiān)測選定的參數(shù)，直到退化超過壽命終止為止。
2、恒溫試驗：恒溫試驗與高溫運行試驗類似，應(yīng)規(guī)定恒溫試驗樣品數(shù)量和允許失效數(shù)。
3、變溫試驗：變化溫度的高溫加速老化試驗，是定期按順序逐步升高溫度（如60℃、85℃和100℃）。
4、溫度循環(huán)：除了作為環(huán)境應(yīng)力試驗需要對光電子器件進行溫度循環(huán)外，溫度循環(huán)還可對管電子器件進行加速老化。
溫度循環(huán)的加速老化，目的一般不是為了引起特定的性能參數(shù)的退化，而是為了提供封裝在組件里的光路長期機械穩(wěn)定性的附加說明。
總結(jié)，光器件的可靠性其實是一個很復(fù)雜的系統(tǒng)工程。為提高光電子元器件的使用可靠性，須在元器件研發(fā)階段、量產(chǎn)及出廠階段做好相關(guān)可靠性測試、篩選等工作，由研發(fā)、生產(chǎn)、采購、質(zhì)保、體系管理等多方面的參與，才能為提高電子產(chǎn)品可靠性提供堅實的保障。創(chuàng)芯檢測是一家電子元器件專業(yè)檢測機構(gòu)，目前主要提供電容、電阻、連接器、MCU、CPLD、FPGA、DSP等集成電路檢測服務(wù)。專精于電子元器件功能檢測、電子元器件來料外觀檢測、電子元器件解剖檢測、丙酮檢測、電子元器件X射線掃描檢測、ROHS成分分析檢測。歡迎致電，我們將竭誠為您服務(wù)！
