目前,我國(guó)電子加工業(yè)發(fā)展迅速,同時(shí),市場(chǎng)對(duì)電子產(chǎn)品的質(zhì)量要求也越來(lái)越高。特別是在電路組裝方面,對(duì)檢測(cè)的方法和技術(shù)提出了更高的規(guī)范。元器件的檢測(cè)是一項(xiàng)必不可少的基礎(chǔ)性工作,必須根據(jù)不同的元器件采用不同的方法,從而判斷元器件的正常與否。那么電子元器件的好壞需要做哪些測(cè)試?下面一起來(lái)看看吧!
半導(dǎo)體器件的失效通常是因?yàn)楫a(chǎn)生的應(yīng)力超過了它們的最大額定值。 電氣應(yīng)力、熱應(yīng)力、化學(xué)應(yīng)力、輻射應(yīng)力、機(jī)械應(yīng)力及其他因素都會(huì)造 成器件失效。器件失效會(huì)存在于產(chǎn)品的整個(gè)生命周期,如果缺乏對(duì)各個(gè)階段失效信息及失效器件的收集,失效分析工作將失去必要的“物質(zhì)”基礎(chǔ)。因此,開展失效分析,必須首先在開發(fā)、生產(chǎn)、工程等階段建立失效信息和失效器件的收集制度。下面帶來(lái)半導(dǎo)體元器件失效主要五個(gè)原因匯總解析!
隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來(lái)越重要,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。
X-Ray是利用陰極射線管產(chǎn)生高能量電子與金屬靶撞擊,在撞擊過程中,因電子突然減速,其損失的動(dòng)能會(huì)以X-Ray形式放出。便于分析金屬材料及零部件、塑膠材料及零部件、電子元器件、電子組件、LED元件等內(nèi)部的裂紋、異物的缺陷檢測(cè),BGA、線路板等內(nèi)部位移的分析;判別空焊,虛焊等BGA焊接缺陷,微電子系統(tǒng)和膠封元件,電纜,裝具,塑料件內(nèi)部情況等等。仿冒品幾乎出現(xiàn)在每個(gè)行業(yè),有關(guān)元件仿冒的問題普遍存在,并且已經(jīng)滲透到整個(gè)電子元件供應(yīng)鏈了,設(shè)備制造商們極需建立一個(gè)強(qiáng)大的防御體系。
二極管全稱為晶體二極管,是半導(dǎo)體器件的一種,又稱半導(dǎo)體二極管。晶體二極管的結(jié)構(gòu)是一個(gè)由 p 型結(jié)節(jié)半導(dǎo)體和 n 型結(jié)節(jié)的半導(dǎo)體形成的 p-n 結(jié)結(jié)構(gòu)組織,在其結(jié)節(jié)處的兩側(cè)形成各自的空間電荷層,并建有自建電場(chǎng)的等效。如果當(dāng)不存在外加的電壓時(shí)候,由于 p-n結(jié)兩邊的載流子濃度差所引起的擴(kuò)散電流和自建電場(chǎng)所引起的漂移電流相等而處于使得形成為電平衡的狀態(tài)。
PCB電路板是電子元件的基礎(chǔ)和高速公路,又稱印刷電路板,是電子元器件電氣連接的提供者。它的發(fā)展已有100多年的歷史了;它的設(shè)計(jì)主要是版圖設(shè)計(jì);采用電路板的主要優(yōu)點(diǎn)是大大減少布線和裝配的差錯(cuò),提高了自動(dòng)化水平和生產(chǎn)勞動(dòng)率。PCB的質(zhì)量非常關(guān)鍵,要檢查PCB的質(zhì)量,必須進(jìn)行多項(xiàng)可靠性測(cè)試。這篇文章就是對(duì)測(cè)試的介紹,一起來(lái)看看吧。
一般來(lái)說(shuō),集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過程中失效不可避免,隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來(lái)越重要,通過芯片失效分析,可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐栴}。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個(gè)流程,最重要的還是要借助于各種先進(jìn)精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個(gè)方面闡述,希望對(duì)大家有所幫助。
變壓器可以用萬(wàn)用表進(jìn)行檢測(cè),如圖所示,一是檢測(cè)繞組線圈通斷,二是檢測(cè)繞組線圈之間的絕緣電阻,三是檢測(cè)繞組線圈與鐵芯之間的絕緣電阻。
失效分析是芯片測(cè)試重要環(huán)節(jié),無(wú)論對(duì)于量產(chǎn)樣品還是設(shè)計(jì)環(huán)節(jié)亦或是客退品,失效分析可以幫助降低成本,縮短周期。 常見的失效分析方法有Decap,X-RAY,IV,EMMI,F(xiàn)IB,SEM,EDX,Probe,OM,RIE等,因?yàn)槭Х治鲈O(shè)備昂貴,大部分需求單位配不了或配不齊需要的設(shè)備,因此借用外力,使用對(duì)外開放的資源,來(lái)完成自己的分析也是一種很好的選擇。我們選擇去外面測(cè)試時(shí)需要準(zhǔn)備的信息有哪些呢?下面為大家整理一下: