電子元器件失效是指在電子設(shè)備或電路中使用的元器件無法正常工作或完成其預(yù)期功能的情況。電子元器件失效分析是對已失效元器件進(jìn)行的一種事后檢查。根據(jù)需要,使用電測試及必要的物理、金相和化學(xué)分析技術(shù),驗(yàn)證所報(bào)告的失效,確認(rèn)其失效模式,找出失效機(jī)理。
電子元器件失效分析是借助各種測試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辯其失效模式和失效機(jī)理,并最終確認(rèn)其失效原因。提出改善設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件的可靠性。因此,開展失效分析,必須首先在開發(fā)、生產(chǎn)、工程等階段建立失效信息和失效器件的收集制度。
一般來說,芯片在研發(fā)、生產(chǎn)過程中出現(xiàn)錯(cuò)誤是不可避免的。失效分析是判斷產(chǎn)品的失效模式,查找產(chǎn)品失效機(jī)理和原因,提出預(yù)防再失效對策的技術(shù)活動和管理活動。隨著人們對產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高,失效分析工作也顯得越來越重要,社會的發(fā)展就是一個(gè)發(fā)現(xiàn)問題解決問題的過程,出現(xiàn)問題不可怕,但頻繁出現(xiàn)同一類問題是非??膳碌摹?/span>
失效就意味著電路可能出現(xiàn)故障,從而影響設(shè)備的正常工作。電子設(shè)備中大部分故障,究其原因都是由于電子元器件失效引起的。電子元器件主要包括元件和器件,電子元件是生產(chǎn)加工過程中分子成分不被改變的成品,比如:電容、電阻和電感等。電子器件是生成加工過程中分子結(jié)構(gòu)發(fā)生變化的成品,比如:電子管、集成電路等。
失效分析是一門發(fā)展中的新興學(xué)科,近年開始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動。在提高產(chǎn)品質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義。其方法分為有損分析,無損分析,物理分析,化學(xué)分析等。
失效分析是指分析研究構(gòu)件的斷裂,表面損傷及變形等失效現(xiàn)象的特征及規(guī)律的一門技術(shù)。在提高元器件質(zhì)量,技術(shù)開發(fā)、改進(jìn),產(chǎn)品修復(fù)及仲裁失效事故等方面具有很強(qiáng)的實(shí)際意義,是根據(jù)失效模式和現(xiàn)象,通過分析和驗(yàn)證,模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象,找出元器件失效的原因,挖掘出失效的機(jī)理的活動。方法分為有損分析,無損分析,物理分析,化學(xué)分析等。
失效是指電子元器件出現(xiàn)的故障。各種電子系統(tǒng)或者電子電路的重要組成部分一般是不同類型的元器件,當(dāng)它需要的元器件較多時(shí),則標(biāo)志其設(shè)備的復(fù)雜程度就較高;反之,則低。一般還會把電路故障定義為:電路系統(tǒng)規(guī)定功能的喪失。失效分析通過電學(xué)、物理與化學(xué)等一系列分析技術(shù)手段獲得電子產(chǎn)品失效機(jī)理與原因的過程?;讷@得的失效機(jī)理和原因,可以采取針對性的改進(jìn)措施,提升產(chǎn)品的可靠性與成品率,縮短研發(fā)周期,鑄就好的品牌,解決技術(shù)糾紛,節(jié)約成本等。
電子元器件失效分析的目的是借助各種測試分析技術(shù)和分析程序確認(rèn)電子元器件的失效現(xiàn)象,分辨其失效模式和失效機(jī)理,確定其最終失效的原因,提出改進(jìn)設(shè)計(jì)和制造工藝的建議,防止失效的重復(fù)出現(xiàn),提高元器件可靠性。失效分析是產(chǎn)品可靠性工程的一個(gè)重要組成部分。失效分析被廣泛應(yīng)用于確定研制生產(chǎn)過程中生產(chǎn)問題的原因,鑒別測試過程中與可靠性相關(guān)的失效,確認(rèn)使用過程中的現(xiàn)場失效機(jī)理。
失效分析是產(chǎn)品可靠性工程的一個(gè)重要組成部門。失效分析被廣泛應(yīng)用于確定研制出產(chǎn)過程中出產(chǎn)題目的原因,鑒別測試過程中與可靠性相關(guān)的失效,確認(rèn)使用過程中的現(xiàn)場失效機(jī)理。在電子元器件的研制階段,失效分析可糾正設(shè)計(jì)和研制中的錯(cuò)誤,縮短研制周期;在電子元器件的出產(chǎn)、測試和使用階段,失效分析可找出電子元器件的失效原因和引起電子元器件失效的責(zé)任方。失效分析方法主要有哪幾種呢?接下來一起看看吧。