失效分析是針對(duì)失效構(gòu)件，為查明失效起因并采取預(yù)防措施而進(jìn)行的一切技術(shù)活動(dòng)。它相當(dāng)于材料診斷學(xué)，運(yùn)用各種分析儀器和方法，對(duì)斷口缺陷進(jìn)行綜合分析，查明失效原因，并采取措施防止同類(lèi)失效的再發(fā)生。失效分析不僅是針對(duì)失效件進(jìn)行原因分析的技術(shù)活動(dòng)，還是一項(xiàng)質(zhì)量管理活動(dòng)，涉及到設(shè)計(jì)、生產(chǎn)、使用、維修等各個(gè)領(lǐng)域，有效的失效分析常常能從設(shè)計(jì)合理性，工藝穩(wěn)定性、產(chǎn)品可靠性、安全性及實(shí)用性等方面找到問(wèn)題點(diǎn)，以便我們進(jìn)行改進(jìn)及預(yù)防，從根本上提高產(chǎn)品的質(zhì)量。

2023-01-06 14:54:34

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大體來(lái)講，集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過(guò)程中失效不可避免，由于人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來(lái)越重要，通過(guò)芯片失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐?wèn)題。下面主要對(duì)芯片失效分析常見(jiàn)的思路進(jìn)行簡(jiǎn)要分析，供大家參考。

2022-10-17 17:12:36

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一般來(lái)說(shuō)，芯片在研發(fā)、生產(chǎn)過(guò)程中出現(xiàn)錯(cuò)誤是不可避免的，就如房缺補(bǔ)漏一樣，哪里出了問(wèn)題你僅要解決問(wèn)題，還要思考為什么會(huì)出現(xiàn)問(wèn)題。隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來(lái)越重要，社會(huì)的發(fā)展就是一個(gè)發(fā)現(xiàn)問(wèn)題解決問(wèn)題的過(guò)程，出現(xiàn)問(wèn)題不可怕，但頻繁出現(xiàn)同一類(lèi)問(wèn)題是非?？膳碌摹１疚闹饕接懙木褪侨绾芜M(jìn)行有效的芯片失效分析的解決方案以及常見(jiàn)的分析手段。

2021-10-13 18:27:25

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隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來(lái)越重要，近年開(kāi)始從軍工向普通企業(yè)普及。它一般根據(jù)失效模式和現(xiàn)象，通過(guò)分析和驗(yàn)證，模擬重現(xiàn)失效的現(xiàn)象，找出失效的原因，挖掘出失效的機(jī)理的活動(dòng)。

2021-04-27 15:57:00

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一般來(lái)說(shuō)，集成電路在研制、生產(chǎn)和使用過(guò)程中失效不可避免，隨著人們對(duì)產(chǎn)品質(zhì)量和可靠性要求的不斷提高，失效分析工作也顯得越來(lái)越重要，通過(guò)芯片失效分析，可以幫助集成電路設(shè)計(jì)人員找到設(shè)計(jì)上的缺陷、工藝參數(shù)的不匹配或設(shè)計(jì)與操作中的不當(dāng)?shù)葐?wèn)題。芯片失效分析的常用方法不外乎那幾個(gè)流程，最重要的還是要借助于各種先進(jìn)精確的電子儀器。以下內(nèi)容主要從這兩個(gè)方面闡述，希望對(duì)大家有所幫助。

2021-04-26 16:41:00

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